مجهر تأين المجال field-ionization microscope FIM:
نوع من أنواع المجاهر الإلكترونية التي مبدأ عملها مشابه لمبدأ عمل مجهر انبعاث المجال و لكن في هذه الحالة يتم تطبيق فولت موجب على جدا على الطرف المعدني الذي يكون محاطا بغاز منخفض الضغط (عادة هيليوم) بدلا من الوعاة المفرغ من الهواء. تنتج الصورة في هذه الحالة عن طريق تأين المجال ، أي تأين سطح المادة الصلبة غير المسخنة كنتيجة للمجال الكهربائي القوي حيث تنتج الأيونات الموجبة من خلال انتقال الإلكترون من الذرات أو الجزيئات المحيطة و التي يمكن الكشف عنها من خلال اصطدامها بشاشة فلوروسينية.
