مجهر تأين المجال field-ionization microscope FIM: نوع من أنواع المجاهر الإلكترونية التي مبدأ عملها مشابه لمبدأ عمل مجهر انبعاث المجال و لكن في هذه الحالة يتم تطبيق فولت موجب على جدا على الطرف المعدني الذي يكون محاطا بغاز منخفض الضغط (عادة هيليوم) بدلا من الوعاة المفرغ من الهواء. تنتج الصورة …
أكمل القراءة »مجهر انبعاث المجال
مجهر انبعاث المجال field-emission microscope FEM : نوع من أنواع المجهر الإلكتروني بحيث يتم تطبيق جهد سالب عال جدا على طرف معدني في وعاء معدني مفرغ من الهواء يكون على مسافة من شاشة زجاجية مغطاة بطبقة فلوريسينية . ينتج الطرف الإلكترونات عن طريق إنبعاث المجال، أي انبعاث الإلكترونات من الجزء المعدني …
أكمل القراءة »مجهرية الحقل الأيوني للكشف الذري
مجهرية الحقل الأيوني للكشف الذري atom-probe field-ion microscopy : تقنية تستخدم للكشف عن الذرات كل على حدة الموجودة على السطح . ففي مجهرية الحقل المتأين للكشف الذري FIM هناك فجوة في الشاشة الفلوريسينية بحيث تظهر صورة الذرة الممتزة من خلال جهاز مجهرية الحقل المتأين للكشف الذري و من ثم يتم إزالة …
أكمل القراءة »مجهر القوى الذري
مجهر القوى الذري (atomic force microscope (AFM : نوع من المجاهر بحيث يكون فيه مجس صغير مثبت على ناتئة نابضة و يحتوي على شريحة من الماس متصلا مع سطح العينة. يتم تحريك المجس على طول السطح و من ثم يتم ملاحظة التغير في القوى بين رأس المجس و سطح العينة . …
أكمل القراءة »