مجهر تأين المجال field-ionization microscope FIM: نوع من أنواع المجاهر الإلكترونية التي مبدأ عملها مشابه لمبدأ عمل مجهر انبعاث المجال و لكن في هذه الحالة يتم تطبيق فولت موجب على جدا على الطرف المعدني الذي يكون محاطا بغاز منخفض الضغط (عادة هيليوم) بدلا من الوعاة المفرغ من الهواء. تنتج الصورة في هذه الحالة عن طريق
معاملات آينشتاين Einstein coefficients : معاملات تستخدم للنظرية الكمية للإشعاع مرتبطة مع احتمالية الانتقال الحادث بين الحالة المستقرة و الحالة المستثارة أو العكس في عمليات الانبعاث المحفز و الانبعاث التلقائي. فللذرة التي تعرضت لإشعاع كهرومغناطيسي فإن معدل الإمتصاص Ra يحسب من العلاقة Ra=Bρ حيث ρ كثافة الإشعاع الكهرومغناطيسي و B معامل آينشتاين B المرتبط مع الإمتصاص.