مجهر تأين المجال field-ionization microscope FIM: نوع من أنواع المجاهر الإلكترونية التي مبدأ عملها مشابه لمبدأ عمل مجهر انبعاث المجال و لكن في هذه الحالة يتم تطبيق فولت موجب على جدا على الطرف المعدني الذي يكون محاطا بغاز منخفض الضغط (عادة هيليوم) بدلا من الوعاة المفرغ من الهواء. تنتج الصورة في هذه الحالة عن طريق
مجهر انبعاث المجال field-emission microscope FEM : نوع من أنواع المجهر الإلكتروني بحيث يتم تطبيق جهد سالب عال جدا على طرف معدني في وعاء معدني مفرغ من الهواء يكون على مسافة من شاشة زجاجية مغطاة بطبقة فلوريسينية . ينتج الطرف الإلكترونات عن طريق إنبعاث المجال، أي انبعاث الإلكترونات من الجزء المعدني الحاد غير المسخن كنتيجة للمجال
مجهرية الحقل الأيوني للكشف الذري atom-probe field-ion microscopy : تقنية تستخدم للكشف عن الذرات كل على حدة الموجودة على السطح . ففي مجهرية الحقل المتأين للكشف الذري FIM هناك فجوة في الشاشة الفلوريسينية بحيث تظهر صورة الذرة الممتزة من خلال جهاز مجهرية الحقل المتأين للكشف الذري و من ثم يتم إزالة الغاز المتسبب في إحداث الصورة