الرئيسية » مواضيع مميزة » Atomic force microscope AFM

Atomic force microscope AFM

An instrument used to investigate surfaces. A small probe consisting of a very small chip of diamond is held just above a surface of a sample by a spring-loaded cantilever. As the probe is slowly moved over the surface the force between the surface and the tip is measured and the probe is automatically raised and lowered to keep this force constant. Scanning the surface in this way enables a contour map of the surface to be generated with the help of a computer. An atomic force microscope closely resembles a scanning tunnelling microscope (STM)  in some ways, although it uses forces rather than electrical signals to investigate the surface. Like a STM, it can resolve individual molecules. Unlike a STM, it can be used to investigate nonconducting materials, a feature that is useful in investigating biological samples.

مقالات قد تفيدك :

عن Akram Amir El Ali

استاذ الكيمياء التحليلية ومصمم غرافيك

شاهد أيضاً

ملخص الفصل الثامن من كتاب العالم زومدال الترابط مفاهيم عامة CH 8 Bonding, General Concepts, General Chemistry Zumdahl

ملخص الفصل الثامن من كتاب العالم زومدال الترابط مفاهيم عامة Bonding, General Concepts, General Chemistry …

اترك تعليقاً

لن يتم نشر عنوان بريدك الإلكتروني.

هذا الموقع يستخدم Akismet للحدّ من التعليقات المزعجة والغير مرغوبة. تعرّف على كيفية معالجة بيانات تعليقك.